微距測試卡簡介

微距測試卡TE274設計用于分析在微距模式下單反相機系統(tǒng)以及小型相機的微距鏡頭的分辨率和失真。

微距測試卡TE274由兩部分組成：

斜邊用于分辨率測量

該測試卡包含15個斜邊結構，每個具有兩個垂直和兩個水平

邊緣和聚焦輔助在中心。斜邊結構傾斜5°并且具有大約97％的調制。

斜邊以一種方式布置，以在圖像高度（3：2縱橫比）的30％，45％，60％和75％處遞送軸分辨率和分辨率。

交叉圖用于失真測量

白色背景上的黑色十字用于確定透鏡幾何畸變（LGD）和色差。

微距測試卡TE274使用方法

將微距測試卡放在相機外的桌子上。從測試卡的上部（斜邊）開始，將框架中的測試卡滑動到向下位置。調整相機和測試卡之間的距離，直到斜邊圖表填滿圖像高度。拍攝圖像后，將圖框滑動到上邊框?，F在失真部分恰好在用于拍攝圖像的位置。不需要重新調整或重新聚焦。